Šio projekto tikslas – atnaujinti vieną iš skenuojančių elektronų mikroskopų (SEM), kuriuos galima naudoti mikroskopijos sekcijoje, nauju skenuojančiu elektronų mikroskopu su lauko spinduliuote su jonų pluoštu (FIB), veikimo režimu krioklio ir mikroanalizės detektoriumi bei 30 KV 3 nanometrų skiriamąja geba. Sekcijai prieinama SEM įranga yra viena su daugiau nei 25 metų, kita – 10 metų. Pastarųjų metų technologinė pažanga sukūrė naujas technologijas, susietas su SEM įranga._x000D_ Pastaraisiais metais buvo sukurta technologinė pažanga, kuri buvo įdiegta į SEM įrangą. Tarp jų FIB technika kartu su SEM atveria duris į naują matmenį, todėl galima ištirti trimatę struktūrą esant didelei rezoliucijai, kad nanometrų eilės skiriamoji geba Z, pašalinant mėginio sluoksnius po jonų pluošto veikimu. Tai reiškia, kad didžiulis šuolis kokybinis šuolis, palyginti su įprastine didelės skiriamosios gebos skenavimo mikroskopija.