Σκοπός του έργου αυτού είναι η ανανέωση ενός από τα ηλεκτρονικά μικροσκόπια σάρωσης (SEM), που διατίθενται στο τμήμα μικροσκοπίων μικροσκοπίων, με νέο ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης με εκπομπή πεδίου εξοπλισμένο με δέσμη ιόντων (FIB), με λειτουργία λειτουργίας κρυοσκοπικού και με ανιχνευτή μικροανάλυσης και με ανάλυση στα 30 KV 3 νανόμετρα. Ο εξοπλισμός SEM που διατίθεται στο τμήμα είναι ένας με περισσότερα από 25 χρόνια και ο άλλος με 10 ετών. Οι τεχνολογικές εξελίξεις των τελευταίων ετών έχουν αναπτύξει νέες τεχνικές σε συνδυασμό με τον εξοπλισμό SEM._x000D_ Τα τελευταία χρόνια έχουν αναπτυχθεί τεχνολογικές εξελίξεις που έχουν ενσωματωθεί στον εξοπλισμό SEM. Μεταξύ αυτών η τεχνική FIB σε συνδυασμό με ένα SEM ανοίγει την πόρτα σε μια νέα διάσταση καθιστώντας δυνατή τη μελέτη της τρισδιάστατης δομής σε υψηλή ανάλυση φθάνοντας σε ανάλυση σε Z της τάξης των νανομέτρων εξαλείφοντας τα στρώματα του δείγματος υπό τη δράση της δέσμης ιόντων. Αυτό υποθέτει ένα τεράστιο άλμα ποιοτικού άλματος σε σύγκριση με τη συμβατική μικροσκοπία σάρωσης υψηλής ανάλυσης.