Namen tega projekta je obnova enega od elektronskih mikroskopov (SEM), ki so na voljo oddelku za mikroskopijo, z novim elektronskim mikroskopom za skeniranje s poljem, opremljenim z ionskim žarkom (FIB), z delovnim načinom v krioju in z mikroanaliznim detektorjem ter z ločljivostjo pri 30 KV 3 nanometrov. SEM oprema, ki je na voljo oddelku je ena z več kot 25 let in druga z 10 let. Tehnološki napredek zadnjih let je razvil nove tehnike, povezane s SEM opremo._x000D_ V zadnjih letih je bil razvit tehnološki napredek, ki je bil vključen v SEM opremo. Med njimi FIB tehnika v kombinaciji s SEM odpira vrata do nove dimenzije, kar omogoča preučevanje tridimenzionalne strukture pri visoki ločljivosti, ki doseže ločljivost v Z zaporedju nanometrov z odstranitvijo plasti vzorca pod delovanjem ionskega žarka. To predpostavlja velik preskok kvalitativnega skoka v primerjavi z običajno visoko ločljivostjo skeniranje mikroskopijo.
