Achiziționarea unui microscop electronic de scanare cu emisie de câmp ultra-înaltă rezoluție pentru a înlocui JEOL 840 care funcționează de 33 de ani._x000D_ Noul echipament trebuie să fie echipat cu un tun electronic conic de înaltă luminozitate și un obiectiv obiectiv cu aberație redusă._x000D_ Adoptarea tipului de tun electronic Schottky oferă o analiză stabilă cu o sondă de mare curent. Trebuie să aveți opțiunea de a lucra în vid, permițând lucrul cu probe biologice sau probe neconductoare fără tratament până la o presiune de 300 Pa în cameră._x000D_ Achiziționarea tuturor informațiilor cu mai multe detectoare, inclusiv detectorul de electroni secundari, detectorul de electroni backscattered și un detector de electroni pentru sistemul de microanaliză STEM._x000D_ EDX pentru SEM/STEM._x000D_ Acesta trebuie să conțină accesoriul 3View®2XP (Gatan Inc.) care este încorporat în microscopul electronic de scanare a emisiilor de câmp și face posibilă crearea automată a secțiunilor transversale ale eșantionului și ale imaginilor seriale. Reconstrucția 3D a imaginilor achiziționate permite analiza detaliată a structurilor fine în trei dimensiuni._x000D_ Nu există un microscop apropiat cu caracteristici similare cu cele solicitate cu vocația de a fi un serviciu de sprijin pentru cercetare și predare.