Aquisição de um microscópio eletrônico de varredura com emissão de campo de ultra-alta resolução para substituir o JEOL 840 que trabalha há 33 anos._x000D_ O novo equipamento deve ser equipado com uma pistola cônica de alto brilho e uma lente objetiva de baixa aberração._x000D_ A adoção do tipo de pistola de elétrons Schottky oferece análise estável com uma sonda de alta corrente. Você deve ter a opção de trabalhar no vácuo, permitindo trabalhar com amostras biológicas ou amostras não-condutoras sem tratamento até uma pressão de 300 Pa na câmara._x000D_ Aquisição de todas as informações com vários detetores, incluindo detetor de elétrons secundários, detetor de elétrons retrodispersos e um detetor de elétrons para STEM._x000D_ EDX sistema de microanálise para SEM/STEM._x000D_ Deve conter o acessório 3View®2XP (Gatan Inc.) que é incorporado no microscópio de varredura de emissões de campo e que torna possível criar automaticamente seções cruzadas da amostra e imagens em série. A reconstrução 3D das imagens adquiridas permite a análise detalhada das estruturas finas em três dimensões._x000D_ Não há um microscópio próximo com características semelhantes àquelas solicitadas com a vocação de ser um serviço de apoio à pesquisa e ao ensino.