Lo scopo di questo progetto è quello di rinnovare uno dei microscopi elettronici a scansione (SEM), che è a disposizione della sezione Microscopia, con un nuovo microscopio elettronico a scansione delle emissioni di campo dotato di un fascio di ioni (FIB), con una modalità di lavoro in allevamento e con un rivelatore di microanalisi e con una risoluzione a 30 KV di 3 nanometri. I team SEM a disposizione della sezione sono uno con più di 25 anni e l'altro con 10 anni di età. I progressi tecnologici negli ultimi anni hanno sviluppato nuove tecniche abbinate alle apparecchiature SEM._x000D_ Negli ultimi anni sono stati sviluppati progressi tecnologici che sono stati incorporati nei team SEM. Tra questi la tecnica FIB combinata con una SEM apre la porta ad una nuova dimensione che permette di studiare la struttura tridimensionale ad alta risoluzione raggiungendo una risoluzione Z dell'ordine dei nanometri rimuovendo gli strati dal campione sotto l'azione del fascio ionico. Questo rappresenta un enorme salto dalla tradizionale microscopia a scansione ad alta risoluzione.