Acquisition d’un microscope électronique à balayage avec émission de champ ultra-haute résolution pour remplacer le JEOL 840 en service depuis 33 ans, n’ayant plus de pièces de rechange pour le maintenir._x000D_ Le nouvel équipement doit être équipé d’un pistolet à électrons coniques à haute luminosité et d’un objectif cible à faible aberration._x000D_L’adoption du type de barillet électronique Schottky offre une analyse stable avec un courant de sonde élevé. Vous devriez avoir la possibilité de travailler sous vide permettant de travailler avec des échantillons biologiques ou des échantillons non conducteurs sans traitement jusqu’à 300 Pa de pression dans la chambre._x000D_ Acquisition de toutes les informations avec divers détecteurs, y compris le détecteur d’électrons secondaires, le détecteur d’électrons rétrodispersés et un détecteur d’électrons pour STEM. _x000D_ Système de microanalyse EDX pour SEM/STEM._x000D_ Il doit contenir l’accessoire 3View®2XP (Gatan Inc.) qui est intégré au microscope électronique à balayage d’émission de champ et qui permet de créer automatiquement des sections transversales de l’échantillon et des images série. La reconstruction 3D des images acquises permet l’analyse détaillée des structures fines en trois dimensions._x000D_ Il n’y a pas de microscope rapproché de caractéristiques similaires à celles demandées avec la vocation de soutenir la recherche et l’enseignement. Il est destiné à recueillir les différentes demandes des utilisateurs du Service.