L’objectif de ce projet est de renouveler l’un des microscopes électroniques à balayage (SEM), qui est à la disposition de la Section de la Microscopie, par un nouveau microscope électronique à balayage à émission de champ équipé d’un faisceau ionique (FIB), avec un mode de fonctionnement en reproduction et avec un détecteur de micro-analyse et avec une résolution à 30 KV de 3 nanomètres. Les équipes SEM disponibles pour la section sont l’une avec plus de 25 ans et l’autre avec 10 ans. Les avancées technologiques de ces dernières années ont développé de nouvelles techniques couplées à l’équipement SEM._x000D_ Ces dernières années, des avancées technologiques ont été développées qui ont été intégrées dans les équipes SEM. Parmi eux, la technique FIB combinée à un SEM ouvre la porte à une nouvelle dimension permettant d’étudier la structure tridimensionnelle à haute résolution atteignant une résolution Z de l’ordre des nanomètres en éliminant les couches de l’échantillon sous l’action du faisceau ionique. Cela représente un énorme saut par rapport à la microscopie à balayage à haute résolution classique.