Elektronische Bauelemente, die für bordeigene Weltraumanwendungen verwendet werden, sind kosmischen Strahlungen ausgesetzt, die sie möglicherweise unwirksam machen. Das FemtoGaN-Projekt besteht in der Entwicklung einer neuen Technik zum Testen von femtosekundengestützten Lasererregungsstrahlen von elektronischen Bauteilen auf der Grundlage von GaN- und SiC-Materialien für eingebettete Raumfahrtanwendungen. Im Gegensatz zu Silizium-basierten Geräten, bei denen diese Studien seit mehr als 30 Jahren durchgeführt wurden, sind Prüfstände und zugehörige Protokolle für GaN- und SiC-Komponenten trotz des stark wachsenden Marktes für Leistungs- und Mikrowellenkomponenten, die diese neue Materialkette verwenden, noch sehr selten. Das FemtoGaN-Projekt kombiniert die ergänzenden Gutachten des LPCNO-Labors mit dem KMU TRAD. Die Lasertestergebnisse werden mit schweren Ionenbestrahlungskampagnen verglichen, die an denselben Komponenten durchgeführt und mit 3D-Simulation kombiniert werden. Die technischen Lösungen und das Know-how, das nach drei Jahren der Studie erworben wurde, ermöglichen es TRAD, in seinen Räumlichkeiten in Labège (31) eine neue Prüfbank für diese neue Komponentenkette zu installieren und die damit verbundenen Leistungen an seine französischen und internationalen Kunden zu verkaufen. Diese Lasertests ermöglichen es TRAD-Kunden, (i) die am wenigsten strahlenempfindlichen kommerziellen Komponenten auszuwählen und (ii) neue, robustere Komponenten mit optimierten Geometrien und Strukturen zu entwickeln.