Ziel dieses Projekts ist es, eines der Rasterelektronenmikroskope (SEM) zu erneuern, das dem Mikroskopieabschnitt zur Verfügung steht, durch ein neues Feldemissions-Scanning-Elektronenmikroskop, das mit einem Ionenstrahl (FIB) ausgestattet ist, mit einem Arbeitsmodus in der Zucht und mit einem Mikroanalysedetektor und einer Auflösung von 30 KV von 3 Nanometern. Die SEM-Teams, die der Sektion zur Verfügung stehen, sind eins mit mehr als 25 Jahren und das andere mit 10 Jahren. Technologische Fortschritte in den letzten Jahren haben neue Techniken in Verbindung mit SEM-Geräten entwickelt._x000D_ In den letzten Jahren wurden technologische Fortschritte entwickelt, die in die SEM-Teams integriert wurden. Unter ihnen öffnet die FIB-Technik in Kombination mit einem SEM die Tür zu einer neuen Dimension, die es ermöglicht, die dreidimensionale Struktur mit hoher Auflösung zu untersuchen, die eine Z-Auflösung der Reihenfolge der Nanometer erreicht, indem Schichten aus der Probe unter der Wirkung des Ionenstrahls entfernt werden. Dies stellt einen gewaltigen Sprung von der konventionellen hochauflösenden Scanmikroskopie dar.
