FEG TEM/STEM is een initiatief van het Laboratorium voor Elektronische Microscopie en Bouwmateriaal Karakterisatie (HEMDXY) van het Departement Natuurkunde van de Aristoteles Universiteit van Thessaloniki (AUTH) om een geavanceerde, open access innovatieve onderzoeksinfrastructuur te verwerven die een regionaal elektronisch microscopieplatform (EM) zal zijn voor toegepast innovatief onderzoek. Het bestrijkt een horizontaal breed scala aan activiteiten op het gebied van RIS3 (Onderzoeks- en innovatiestrategie voor slimme specialisatie), van de basisstudie en exploratie van de structuur van klassieke bouwmaterialen tot geavanceerde nanotechnologiematerialen. FEG TEM/STEM zal toegang bieden tot uitstekende diensten door het leveren van een state-of-the-art (state-of-the-art) en unieke elektronische microscoop in Griekenland voor Transit-Scanning/Transit (HM TEM/STEM) met een veld-emitting elektronen (FEG) bron, ondersteund door de bestaande apparatuur en het zeer gespecialiseerde wetenschappelijke potentieel van het Laboratorium voor elektronische microscopie en structuurkarakterisering van materialen (EEM). De infrastructuur zal onmiddellijk na voltooiing van de EM-installatie operationeel zijn. De superioriteit van de FEG TEM/STEM HM ten opzichte van de oude EM-technologie is te wijten aan het feit dat het gelijktijdig alle straling detecteert die ontstaat wanneer een hoog-energie-elektronenstraal door een materiaal stroomt. Het maakt directe observatie, meting en gedetailleerd onderzoek van de nanostructuur van alle materialen mogelijk, van metaalcoatingslegeringen tot hybride materialen en nanodeeltjes voor opkomende nanotechnologietoepassingen. De hoge resolutie van HM FEG TEM/STEM biedt beelden van de atomen zelf en in 3 dimensies. Een belangrijk voordeel is de Scan-Transit (STEM) functie, die niet beschikbaar is in de bestaande Nemu infrastructuur, en maakt deze geschikt voor analysetechnieken die de chemische samenstelling van het materiaal op nanoschaal onthullen. Daarom zullen de structurele kenmerken rechtstreeks in verband worden gebracht met de samenstelling, waardoor fabrikanten snel de meest betrouwbare feedback krijgen om de kwaliteit van de materialen te optimaliseren en te certificeren en om de kenmerken van de structuur rechtstreeks te koppelen aan de vereiste macroscopische fysische eigenschappen. Het is bekend dat de eigenschappen van materialen op nanoschaal een belangrijke rol spelen in toekomstige ontwikkelingen op het gebied van innovatie en wereldwijde technologische ontwikkeling. Daarom kunnen eigenschappen zoals kristallijne — polykristallijne of nanokristallijne structuur, type en eigenschappen van interne interoppervlakten, structurele gebreken, lokale chemische samenstelling en begrip van verwante structurele mechanismen in de nanoschaal, de gecontroleerde productie van nieuwe materialen begeleiden. Het HM FEG TEM/STEM zal een belangrijke verbetering zijn van de bestaande infrastructuur van het EWDD met het oog op de ontwikkeling van een moderne pool van excellentie, een „Centre for Electronic Microscopy”, uniek in Griekenland, die aanzienlijk zal bijdragen aan de Griekse interdisciplinaire behoeften van geavanceerd onderzoek dat exploratie en analyse van innovatieve bouwmaterialen, nanomaterialen en hun eigenschappen vereist, van microscopische tot atoomschaal. De nieuwe IM FEG TEM/STEM zal AUTH in staat stellen het voordeel te behouden van baanbrekend en concurrentievermogen op het gebied van elektronische microscopie, het personeel van het EWDD om de excellentie van de opleiding van jonge onderzoekers en onderzoek op internationaal niveau voort te zetten, en de productieve entiteiten van de regio Centraal-Macedonië die actief zijn op het gebied van „strategische intelligente specialisatie” en in alle daarmee verband houdende geavanceerde technologische gebieden, om er op passende wijze gebruik van te maken.